Ursaki, V. V. ; Tiginyanu, I. M. ; Syrbu, N. N. ; Zalamai, V. V. ; Hubbard, S. M. ; Pavlidis, Dimitris (2003)
Sharp variations in the temperature dependence of optical reflectivity from AlN/GaN heterostructures.
In: Semiconductor science and technology, 18
Artikel, Bibliographie
Typ des Eintrags: | Artikel |
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Erschienen: | 2003 |
Autor(en): | Ursaki, V. V. ; Tiginyanu, I. M. ; Syrbu, N. N. ; Zalamai, V. V. ; Hubbard, S. M. ; Pavlidis, Dimitris |
Art des Eintrags: | Bibliographie |
Titel: | Sharp variations in the temperature dependence of optical reflectivity from AlN/GaN heterostructures |
Sprache: | Englisch |
Publikationsjahr: | 2003 |
Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: | Semiconductor science and technology |
Jahrgang/Volume einer Zeitschrift: | 18 |
Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik |
Hinterlegungsdatum: | 19 Nov 2008 16:25 |
Letzte Änderung: | 20 Feb 2020 13:26 |
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