Petzold, S. ; Piros, E. ; Sharath, S. U. ; Zintler, Alexander ; Hildebrandt, Erwin ; Molina-Luna, Leopoldo ; Wenger, C. ; Alff, Lambert (2019)
Gradual Reset and Set Characteristics in Yttrium Oxide based Resistive Random Access Memory.
In: Semiconductor Science and Technology
doi: 10.1088/1361-6641/ab220f
Artikel, Bibliographie
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Typ des Eintrags: | Artikel |
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Erschienen: | 2019 |
Autor(en): | Petzold, S. ; Piros, E. ; Sharath, S. U. ; Zintler, Alexander ; Hildebrandt, Erwin ; Molina-Luna, Leopoldo ; Wenger, C. ; Alff, Lambert |
Art des Eintrags: | Bibliographie |
Titel: | Gradual Reset and Set Characteristics in Yttrium Oxide based Resistive Random Access Memory |
Sprache: | Englisch |
Publikationsjahr: | 16 Mai 2019 |
Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: | Semiconductor Science and Technology |
DOI: | 10.1088/1361-6641/ab220f |
URL / URN: | https://iopscience.iop.org/article/10.1088/1361-6641/ab220f |
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Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft > Fachgebiet Elektronenmikroskopie |
Hinterlegungsdatum: | 20 Mai 2019 05:31 |
Letzte Änderung: | 03 Jul 2024 02:38 |
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Verfügbare Versionen dieses Eintrags
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Gradual reset and set characteristics in yttrium oxide based resistive random access memory. (deposited 06 Sep 2021 12:09)
- Gradual Reset and Set Characteristics in Yttrium Oxide based Resistive Random Access Memory. (deposited 20 Mai 2019 05:31) [Gegenwärtig angezeigt]
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