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Konferenzveröffentlichung
Hatzfeld, Christian ; Bilz, Johannes ; Schlemmer, Sascha ; Adolf, Jan-Eric ; Gu, Yangyang ; Elgner, Steffen ; Kupnik, Mario (2017)
Residual Analysis to Compare Measurement Series’ Differences with Significance and Size Measures.
IEEE SENSORS. Glasgow
Konferenzveröffentlichung, Bibliographie
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