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Hatzfeld, Christian ; Bilz, Johannes ; Schlemmer, Sascha ; Adolf, Jan-Eric ; Gu, Yangyang ; Elgner, Steffen ; Kupnik, Mario :
Residual Analysis to Compare Measurement Series’ Differences with Significance and Size Measures.
In: IEEE SENSORS, Glasgow.
[Konferenz- oder Workshop-Beitrag] , (2017)

Adolf, Jan-Eric :
Untersuchung von Silikonmembranen bezüglich ihrer Eignung als Drucksensormembran.
Institut EMK / FG M+EMS
[Bachelorarbeit] , (2016)

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