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Artikel
Alaei, H. R. ; Eshghi, H. ; Riedel, R. ; Pavlidis, D. (2010)
Thermal Stress and Strain in a GaN Epitaxial Layer Grown on a
Sapphire Substrate by the MOCVD Method.
In: Chinese Journal of Physics, 48 (3)
Artikel, Bibliographie
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