TU Darmstadt / ULB / TUbiblio

Blättern nach Person

Ebene hoch
Exportieren als [feed] Atom [feed] RSS 1.0 [feed] RSS 2.0
Gruppiere nach: Keine Gruppierung | Typ des Eintrags | Publikationsjahr | Sprache
Anzahl der Einträge: 1.

Schwalke, Udo ; Pölzl, Martin ; Sekinger, Thomas ; Kerber, Martin (2001)
Ultra-Thick Gate Oxides: Charge Generation and Its Iimpact on Reliability.
In: Microelectronics Reliability, 41 (7)
Artikel, Bibliographie

Diese Liste wurde am Tue Dec 17 02:37:07 2024 CET generiert.
OAI 2.0-Basis-URL: https://tubiblio.ulb.tu-darmstadt.de/cgi/oai2 TUbiblio verwendet EPrints 3.
Drucken | Impressum | Datenschutzerklärung