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Sternemann, C. ; Soininen, J. A. ; Volmer, M. ; Hohl, Achim ; Vankó, G. ; Streit, S. ; Tolan, M. (2005)
X-ray Raman scattering at the Si L II,III-edge of bulk amorphous SiO.
In: Journal of physics and chemistry of solids, 66
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