Schwalke, Udo ; Wessely, Frank ; Krauss, Tillmann (2013)
Simulation and Experimental Verification: Dopant-free Si-Nanowire CMOS Technology on Silicon-on-Insulator Material.
8th International Design and Test Symposium (IDT). Marrakesh, Morocco (16.12.2013-18.12.2013)
Konferenzveröffentlichung, Bibliographie
URL / URN: http://idtsymposium.org/
| Typ des Eintrags: | Konferenzveröffentlichung |
|---|---|
| Erschienen: | 2013 |
| Autor(en): | Schwalke, Udo ; Wessely, Frank ; Krauss, Tillmann |
| Art des Eintrags: | Bibliographie |
| Titel: | Simulation and Experimental Verification: Dopant-free Si-Nanowire CMOS Technology on Silicon-on-Insulator Material |
| Sprache: | Englisch |
| Publikationsjahr: | 18 Dezember 2013 |
| Veranstaltungstitel: | 8th International Design and Test Symposium (IDT) |
| Veranstaltungsort: | Marrakesh, Morocco |
| Veranstaltungsdatum: | 16.12.2013-18.12.2013 |
| URL / URN: | http://idtsymposium.org/ |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Institut für Halbleitertechnik und Nanoelektronik |
| Hinterlegungsdatum: | 31 Mär 2014 07:32 |
| Letzte Änderung: | 31 Mär 2014 07:32 |
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