Endres, Ralf ; Stefanov, Yordan ; Schwalke, Udo (2006)
Electrical Performance of Damascene Metal Gate MOSFETs with Crystalline Gd2O3 Gate Dielectric.
37th IEEE Semiconductor Interface Specialists Conference (SISC). San Diego, CA, USA (07.12.2006-09.12.2006)
Konferenzveröffentlichung, Bibliographie
Typ des Eintrags: | Konferenzveröffentlichung |
---|---|
Erschienen: | 2006 |
Autor(en): | Endres, Ralf ; Stefanov, Yordan ; Schwalke, Udo |
Art des Eintrags: | Bibliographie |
Titel: | Electrical Performance of Damascene Metal Gate MOSFETs with Crystalline Gd2O3 Gate Dielectric |
Sprache: | Englisch |
Publikationsjahr: | 9 Dezember 2006 |
Veranstaltungstitel: | 37th IEEE Semiconductor Interface Specialists Conference (SISC) |
Veranstaltungsort: | San Diego, CA, USA |
Veranstaltungsdatum: | 07.12.2006-09.12.2006 |
Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Institut für Halbleitertechnik und Nanoelektronik |
Hinterlegungsdatum: | 27 Jun 2011 14:09 |
Letzte Änderung: | 22 Mai 2013 14:09 |
PPN: | |
Export: | |
Suche nach Titel in: | TUfind oder in Google |
Frage zum Eintrag |
Optionen (nur für Redakteure)
Redaktionelle Details anzeigen |