Dietz, C. ; Zerson, M. ; Riesch, C. ; Gigler, A. M. ; Stark, R. W. ; Rehse, N. ; Magerle, R. (2008)
Nanotomography with enhanced resolution using bimodal atomic force microscopy.
In: Applied Physics Letters, 92 (14)
doi: 10.1063/1.2907500
Artikel, Bibliographie
| Typ des Eintrags: | Artikel |
|---|---|
| Erschienen: | 2008 |
| Autor(en): | Dietz, C. ; Zerson, M. ; Riesch, C. ; Gigler, A. M. ; Stark, R. W. ; Rehse, N. ; Magerle, R. |
| Art des Eintrags: | Bibliographie |
| Titel: | Nanotomography with enhanced resolution using bimodal atomic force microscopy |
| Sprache: | Englisch |
| Publikationsjahr: | 2008 |
| Verlag: | American Institute of Physics |
| Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: | Applied Physics Letters |
| Jahrgang/Volume einer Zeitschrift: | 92 |
| (Heft-)Nummer: | 14 |
| DOI: | 10.1063/1.2907500 |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): | Zentrale Einrichtungen ?? fb99_csi~fg5 ?? |
| Hinterlegungsdatum: | 08 Jun 2010 07:01 |
| Letzte Änderung: | 28 Apr 2020 07:40 |
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