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Gate Engineering for High-K Dielectric and Ultra-thin Gate Oxide CMOS

Komaragiri, Rama Subrahmanyam ; Zaunert, Florian ; Schwalke, Udo (2004)
Gate Engineering for High-K Dielectric and Ultra-thin Gate Oxide CMOS.
11th Annual Workshop on Semiconductor Advances for Future Electronics (SAFE). Veldhoven, Niederlande (24.-25.11.2004)
Konferenzveröffentlichung, Bibliographie

Typ des Eintrags: Konferenzveröffentlichung
Erschienen: 2004
Autor(en): Komaragiri, Rama Subrahmanyam ; Zaunert, Florian ; Schwalke, Udo
Art des Eintrags: Bibliographie
Titel: Gate Engineering for High-K Dielectric and Ultra-thin Gate Oxide CMOS
Sprache: Englisch
Publikationsjahr: 25 November 2004
Veranstaltungstitel: 11th Annual Workshop on Semiconductor Advances for Future Electronics (SAFE)
Veranstaltungsort: Veldhoven, Niederlande
Veranstaltungsdatum: 24.-25.11.2004
Fachbereich(e)/-gebiet(e): 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik
18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Institut für Halbleitertechnik und Nanoelektronik
Hinterlegungsdatum: 20 Nov 2008 08:24
Letzte Änderung: 05 Mär 2013 09:10
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