| Typ des Eintrags: |
Konferenzveröffentlichung
|
| Erschienen: |
2002 |
| Autor(en): |
Megej, Alexander ; Beilenhoff, Klaus ; Schuessler, M. ; Ziroff, A. ; Mottet, Bastian ; Yilmazoglu, Oktay ; Mutamba, Kabula ; Hamann, C. D. ; Baican, R. ; Hartnagel, Hans L. |
| Art des Eintrags: |
Bibliographie |
| Titel: |
Integrated microwave sensor for cavity-length measurement with sub-millimeter accuracy |
| Sprache: |
Englisch |
| Publikationsjahr: |
2002 |
| Ort: |
Piscataway, NJ |
| Verlag: |
IEEE Service Center |
| Reihe: |
IEEE MTT S International Microwave Symposium digest 2002 ; vol. 2 / ed. Rob Hamilton.- Piscataway, NJ: IEEE Service Center, 2002.- ISBN 0-7803-7239-5.- S. 643-646 |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): |
18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik
18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Mikrowellenelektronik |
| Hinterlegungsdatum: |
19 Nov 2008 16:30 |
| Letzte Änderung: |
13 Dez 2019 11:19 |
| PPN: |
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| Export: |
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