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Nonlinear optical characterization of GaN layers grown by MOCVD on sapphire

Tiginyanu, I. ; Kravetsky, I. ; Pavlidis, D. ; Eisenbach, A. ; Hildebrandt, R. ; Marowsky, G. ; Hartnagel, H. L. :
Nonlinear optical characterization of GaN layers grown by MOCVD on sapphire.
In: MRS Internet journal nitride semiconductor research. 5S1, W11.52 (2000)
[Artikel], (2000)

Typ des Eintrags: Artikel
Erschienen: 2000
Autor(en): Tiginyanu, I. ; Kravetsky, I. ; Pavlidis, D. ; Eisenbach, A. ; Hildebrandt, R. ; Marowsky, G. ; Hartnagel, H. L.
Titel: Nonlinear optical characterization of GaN layers grown by MOCVD on sapphire
Sprache: Englisch
Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: MRS Internet journal nitride semiconductor research. 5S1, W11.52 (2000)
Fachbereich(e)/-gebiet(e): Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik
Hinterlegungsdatum: 19 Nov 2008 16:25
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