Tiginyanu, I. ; Kravetsky, I. ; Pavlidis, D. ; Eisenbach, A. ; Hildebrandt, R. ; Marowsky, G. ; Hartnagel, H. L. (2000)
Nonlinear optical characterization of GaN layers grown by MOCVD on sapphire.
In: MRS Internet journal nitride semiconductor research. 5S1, W11.52 (2000)
Artikel, Bibliographie
| Typ des Eintrags: | Artikel |
|---|---|
| Erschienen: | 2000 |
| Autor(en): | Tiginyanu, I. ; Kravetsky, I. ; Pavlidis, D. ; Eisenbach, A. ; Hildebrandt, R. ; Marowsky, G. ; Hartnagel, H. L. |
| Art des Eintrags: | Bibliographie |
| Titel: | Nonlinear optical characterization of GaN layers grown by MOCVD on sapphire |
| Sprache: | Englisch |
| Publikationsjahr: | 2000 |
| Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: | MRS Internet journal nitride semiconductor research. 5S1, W11.52 (2000) |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Mikrowellenelektronik |
| Hinterlegungsdatum: | 19 Nov 2008 16:25 |
| Letzte Änderung: | 20 Feb 2020 13:28 |
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