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Analysis and simulation of the multiple resistive switching modes occurring in HfOx-based resistive random access memories using memdiodes

Petzold, S. ; Miranda, E. ; Sharath, S.U. ; Munos-Gorriz, J. ; Vogel, T. ; Piros, E. ; Kaiser, N. ; Eilhardt, Robert ; Zintler, Alexander ; Molina-Luna, Leopoldo ; Sune, J. ; Alff, Lambert (2019)
Analysis and simulation of the multiple resistive switching modes occurring in HfOx-based resistive random access memories using memdiodes.
In: Journal of Applied Physics, (125)
doi: 10.1063/1.5094864
Artikel, Bibliographie

Typ des Eintrags: Artikel
Erschienen: 2019
Autor(en): Petzold, S. ; Miranda, E. ; Sharath, S.U. ; Munos-Gorriz, J. ; Vogel, T. ; Piros, E. ; Kaiser, N. ; Eilhardt, Robert ; Zintler, Alexander ; Molina-Luna, Leopoldo ; Sune, J. ; Alff, Lambert
Art des Eintrags: Bibliographie
Titel: Analysis and simulation of the multiple resistive switching modes occurring in HfOx-based resistive random access memories using memdiodes
Sprache: Englisch
Publikationsjahr: Mai 2019
Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: Journal of Applied Physics
(Heft-)Nummer: 125
DOI: 10.1063/1.5094864
Fachbereich(e)/-gebiet(e): 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften
11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft
11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft > Fachgebiet Elektronenmikroskopie
Hinterlegungsdatum: 26 Jun 2019 05:26
Letzte Änderung: 26 Jun 2019 05:26
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