Blättern nach Person
 | Ebene hoch |
Springe zu: Englisch
Anzahl der Einträge: 1.
Englisch
Drogowska, K. ; Tarnawski, Z. ; Brudnik, A. ; Kusior, E. ; Sokolowski, M. ; Zakrzewska, K. ; Reszka, A. ; Kim-Ngan, N.-T. H. ; Balogh, A. G. (2012)
RBS, XRR and optical reflectivity measurements of Ti-TiO2 thin films deposited by magnetron sputtering.
In: Materials Research Bulletin, 47 (2)
Artikel, Bibliographie
Drucken
Impressum