Blättern nach Person
 | Ebene hoch |
Springe zu: 1996
Anzahl der Einträge: 1.
1996
Tilsch, Markus ; Scheuer, Volker ; Biersack, Jochen ; Tschudi, Theo
Hrsg.: Gee, Anthony E. (1996)
3D simulation of thin film growth conditions at ion beam sputter deposition and comparison to experimental investigations.
doi: 10.1117/12.246794
Konferenzveröffentlichung, Bibliographie
Drucken
Impressum