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Springe zu: 1999
Anzahl der Einträge: 2.
1999
Jennewein, Holger ; Ganz, T. ; Gottschling, H. ; Tschudi, Theo (1999)
Hochpräzise optische Profilometrie an Proben mit variierenden Materialien.
In: Technisches Messen, 66
Artikel, Bibliographie
Jennewein, Holger ; Gottschling, H. ; Ganz, T. ; Tschudi, Theo (1999)
Interferometrical profilometry at surfaces with varying materials.
In: SPIE (Society for Photo-Optical Instrumentation Engineers) Proceedings
Buchkapitel, Bibliographie
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