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Jennewein, Holger ; Ganz, T. ; Gottschling, H. ; Tschudi, Theo (1999):
Hochpräzise optische Profilometrie an Proben mit variierenden Materialien.
In: Technisches Messen, 66, pp. 447-454. [Article]
Jennewein, Holger ; Gottschling, H. ; Ganz, T. ; Tschudi, Theo (1999):
Interferometrical profilometry at surfaces with varying materials.
In: SPIE (Society for Photo-Optical Instrumentation Engineers) Proceedings, 3677, pp. 1009-1016, [Conference or Workshop Item]
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