Englisch

Chung, U.-C. ; Michau, D. ; Elissalde, C. ; Li, S. ; Klein, Andreas ; Maglione, M. (2012)
Evidence of diffusion at BaTiO3/silicon interfaces.
In: Thin Solid Films, 520 (6)
doi: 10.1016/j.tsf.2011.09.055
Artikel, Bibliographie