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1995
Riemenschneider, Rolf ; Gottwald, P. ; Hartnagel, Hans L.
Hrsg.: Bareikis, V. (1995)
Characterisation of SiO2 deposition by low-temperature plasma and photo CVD using low-frequency noise measurements.
13th International Conference on Noise in Physical Systems and 1/f Fluctuations (ICNF'95). Palanga, Lithuania (29.05.1995-03.06.1995)
Konferenzveröffentlichung, Bibliographie
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