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Schuessler, M. ; Krozer, V. ; Bock, K. H. ; Brandt, M. ; Vecchi, L. ; Losi, R. ; Hartnagel, Hans L. (1996)
Pulsed stress reliability investigations of Schottky diodes and HBTs.
In: Microelectronics and reliability, 36 (11-12)
doi: 10.1016/0026-2714(96)00226-0
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