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Klein, Andreas ; Fritsche, J. ; Jaegermann, W. ; Schön, J. H. ; Kloc, C. ; Bucher, E. :
Fermi level dependent defect formation at Cu(In,Ga)Se2 interfaces.
In: Applied Surface Science, 166 (1-4) pp. 508-512. ISSN 01694332
[Artikel], (2000)

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