Klein, Andreas ; Fritsche, J. ; Jaegermann, W. ; Schön, J. H. ; Kloc, C. ; Bucher, E. (2000)
Fermi level dependent defect formation at Cu(In,Ga)Se2 interfaces.
In: Applied Surface Science, 166 (1-4)
doi: 10.1016/S0169-4332(00)00484-0
Artikel, Bibliographie