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Fermi level dependent defect formation at Cu(In,Ga)Se2 interfaces

Klein, Andreas ; Fritsche, J. ; Jaegermann, W. ; Schön, J. H. ; Kloc, C. ; Bucher, E. :
Fermi level dependent defect formation at Cu(In,Ga)Se2 interfaces.
In: Applied Surface Science, 166 (1-4) pp. 508-512. ISSN 01694332
[Artikel], (2000)

Typ des Eintrags: Artikel
Erschienen: 2000
Autor(en): Klein, Andreas ; Fritsche, J. ; Jaegermann, W. ; Schön, J. H. ; Kloc, C. ; Bucher, E.
Titel: Fermi level dependent defect formation at Cu(In,Ga)Se2 interfaces
Sprache: Deutsch
Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: Applied Surface Science
Band: 166
(Heft-)Nummer: 1-4
Fachbereich(e)/-gebiet(e): Fachbereich Material- und Geowissenschaften
Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaften
Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaften > Oberflächenforschung / Surface Science
Hinterlegungsdatum: 19 Nov 2008 15:57
ID-Nummer: 10.1016/S0169-4332(00)00484-0
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