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Fermi level dependent defect formation at Cu(In,Ga)Se2 interfaces

Klein, Andreas ; Fritsche, J. ; Jaegermann, W. ; Schön, J. H. ; Kloc, C. ; Bucher, E. (2000)
Fermi level dependent defect formation at Cu(In,Ga)Se2 interfaces.
In: Applied Surface Science, 166 (1-4)
doi: 10.1016/S0169-4332(00)00484-0
Artikel, Bibliographie

Typ des Eintrags: Artikel
Erschienen: 2000
Autor(en): Klein, Andreas ; Fritsche, J. ; Jaegermann, W. ; Schön, J. H. ; Kloc, C. ; Bucher, E.
Art des Eintrags: Bibliographie
Titel: Fermi level dependent defect formation at Cu(In,Ga)Se2 interfaces
Sprache: Deutsch
Publikationsjahr: 9 Oktober 2000
Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: Applied Surface Science
Jahrgang/Volume einer Zeitschrift: 166
(Heft-)Nummer: 1-4
DOI: 10.1016/S0169-4332(00)00484-0
Fachbereich(e)/-gebiet(e): 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften
11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft
11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft > Fachgebiet Oberflächenforschung
Hinterlegungsdatum: 19 Nov 2008 15:57
Letzte Änderung: 20 Feb 2020 13:27
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