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Sander, M. ; Lewerenz, H.-J. ; Jaegermann, W. ; Schmeisser, D. :
Simulation of electrochemical interface properties: UHV-investigation on CuInSe2 and CuInS2.
[Online-Edition: http://dx.doi.org/10.1002/bbpc.19870910438]
In: Berichte der Bunsengesellschaft für Physikalische Chemie, 91 (4) pp. 416-419. ISSN 00059021
[Artikel], (1987)

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