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Simulation of electrochemical interface properties: UHV-investigation on CuInSe2 and CuInS2

Sander, M. ; Lewerenz, H.-J. ; Jaegermann, W. ; Schmeisser, D. :
Simulation of electrochemical interface properties: UHV-investigation on CuInSe2 and CuInS2.
[Online-Edition: http://dx.doi.org/10.1002/bbpc.19870910438]
In: Berichte der Bunsengesellschaft für Physikalische Chemie, 91 (4) pp. 416-419. ISSN 00059021
[Artikel], (1987)

Offizielle URL: http://dx.doi.org/10.1002/bbpc.19870910438
Typ des Eintrags: Artikel
Erschienen: 1987
Autor(en): Sander, M. ; Lewerenz, H.-J. ; Jaegermann, W. ; Schmeisser, D.
Titel: Simulation of electrochemical interface properties: UHV-investigation on CuInSe2 and CuInS2
Sprache: Deutsch
Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: Berichte der Bunsengesellschaft für Physikalische Chemie
Band: 91
(Heft-)Nummer: 4
Fachbereich(e)/-gebiet(e): Fachbereich Material- und Geowissenschaften
Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaften
Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaften > Oberflächenforschung / Surface Science
Hinterlegungsdatum: 22 Apr 2015 09:06
Offizielle URL: http://dx.doi.org/10.1002/bbpc.19870910438
ID-Nummer: 10.1002/bbpc.19870910438
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