Sträter, H. ; Brüggemann, R. ; Siol, S. ; Klein, Andreas ; Jaegermann, W. ; Bauer, G. H. (2013)
Detailed photoluminescence studies of thin film Cu2S for determination of quasi-Fermi level splitting and defect levels.
In: Journal of Applied Physics, 114 (23)
doi: 10.1063/1.4850955
Artikel, Bibliographie
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| Typ des Eintrags: | Artikel |
|---|---|
| Erschienen: | 2013 |
| Autor(en): | Sträter, H. ; Brüggemann, R. ; Siol, S. ; Klein, Andreas ; Jaegermann, W. ; Bauer, G. H. |
| Art des Eintrags: | Bibliographie |
| Titel: | Detailed photoluminescence studies of thin film Cu2S for determination of quasi-Fermi level splitting and defect levels |
| Sprache: | Englisch |
| Publikationsjahr: | 17 Dezember 2013 |
| Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: | Journal of Applied Physics |
| Jahrgang/Volume einer Zeitschrift: | 114 |
| (Heft-)Nummer: | 23 |
| DOI: | 10.1063/1.4850955 |
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| Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft > Fachgebiet Oberflächenforschung |
| Hinterlegungsdatum: | 28 Mär 2015 15:37 |
| Letzte Änderung: | 03 Jul 2024 02:23 |
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Verfügbare Versionen dieses Eintrags
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Detailed photoluminescence studies of thin film Cu₂S for determination of quasi-Fermi level splitting and defect levels. (deposited 16 Nov 2021 12:30)
- Detailed photoluminescence studies of thin film Cu2S for determination of quasi-Fermi level splitting and defect levels. (deposited 28 Mär 2015 15:37) [Gegenwärtig angezeigt]
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