Rispal, Lorraine ; Schwalke, Udo (2008)
Structural and Electrical Characterization of Carbon Nanotube Field-Effect Transistors Fabricated by Novel Self-aligned Growth Method.
In: 3rd International Conference on Design and Technology of Integrated Systems in Nanoscale Era (DTIS)
Artikel, Bibliographie
URL / URN: http://dx.doi.org/10.1109/DTIS.2008.4540244
| Typ des Eintrags: | Artikel |
|---|---|
| Erschienen: | 2008 |
| Autor(en): | Rispal, Lorraine ; Schwalke, Udo |
| Art des Eintrags: | Bibliographie |
| Titel: | Structural and Electrical Characterization of Carbon Nanotube Field-Effect Transistors Fabricated by Novel Self-aligned Growth Method |
| Sprache: | Englisch |
| Publikationsjahr: | 28 März 2008 |
| Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: | 3rd International Conference on Design and Technology of Integrated Systems in Nanoscale Era (DTIS) |
| URL / URN: | http://dx.doi.org/10.1109/DTIS.2008.4540244 |
| Zusätzliche Informationen: | 3rd International Conference on Design and Technology of Integrated Systems in Nanoscale Era (DTIS), Tozeur, Tunesien, 25.-28.03.2008 |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Institut für Halbleitertechnik und Nanoelektronik |
| Hinterlegungsdatum: | 29 Jun 2011 10:43 |
| Letzte Änderung: | 08 Mai 2024 08:51 |
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