Stefanov, Yordan ; Schwalke, Udo
Hrsg.: Li, Yuzhuo (2007)
Shallow Trench Isolation Chemical Mechanical Planarization.
In: Microelectronic Applications of Chemical Mechanical Planarization
Buchkapitel, Bibliographie
Typ des Eintrags: | Buchkapitel |
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Erschienen: | 2007 |
Herausgeber: | Li, Yuzhuo |
Autor(en): | Stefanov, Yordan ; Schwalke, Udo |
Art des Eintrags: | Bibliographie |
Titel: | Shallow Trench Isolation Chemical Mechanical Planarization |
Sprache: | Englisch |
Publikationsjahr: | 19 Oktober 2007 |
Ort: | Hoboken, NJ, USA |
Verlag: | Wiley |
Buchtitel: | Microelectronic Applications of Chemical Mechanical Planarization |
Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Institut für Halbleitertechnik und Nanoelektronik |
Hinterlegungsdatum: | 20 Nov 2008 08:25 |
Letzte Änderung: | 05 Mär 2013 09:10 |
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