Stefanov, Yordan ; Komaragiri, Rama ; Schwalke, Udo (2005)
Technological Advances for Memory Applications: Crystalline High-K Gate Dielectrics and Alternatively Doped Gates.
In: Proceedings of the 1st International Conference on Memory Technology and Design (ICMTD)
Artikel, Bibliographie
Typ des Eintrags: | Artikel |
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Erschienen: | 2005 |
Autor(en): | Stefanov, Yordan ; Komaragiri, Rama ; Schwalke, Udo |
Art des Eintrags: | Bibliographie |
Titel: | Technological Advances for Memory Applications: Crystalline High-K Gate Dielectrics and Alternatively Doped Gates |
Sprache: | Englisch |
Publikationsjahr: | 24 Mai 2005 |
Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: | Proceedings of the 1st International Conference on Memory Technology and Design (ICMTD) |
Zusätzliche Informationen: | 1st International Conference on Memory Technology and Design (ICMTD), Giens, Frankreich, 21.-24.05.2005 |
Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Institut für Halbleitertechnik und Nanoelektronik |
Hinterlegungsdatum: | 20 Nov 2008 08:21 |
Letzte Änderung: | 08 Mai 2024 08:39 |
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