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Microstructure analysis of Ohmic contacts on MBE grown n-GaSb layers and investigation of submicron contacts

Sigmund, Jochen ; Saglam, M. ; Vogt, Alexander ; Hartnagel, H. L. ; Buschmann, V. ; Wieder, Thomas ; Fuess, H. (2000)
Microstructure analysis of Ohmic contacts on MBE grown n-GaSb layers and investigation of submicron contacts.
Konferenzveröffentlichung, Bibliographie

Typ des Eintrags: Konferenzveröffentlichung
Erschienen: 2000
Autor(en): Sigmund, Jochen ; Saglam, M. ; Vogt, Alexander ; Hartnagel, H. L. ; Buschmann, V. ; Wieder, Thomas ; Fuess, H.
Art des Eintrags: Bibliographie
Titel: Microstructure analysis of Ohmic contacts on MBE grown n-GaSb layers and investigation of submicron contacts
Sprache: Englisch
Publikationsjahr: 2000
Reihe: MBE-XI: International Conference on Molecular Beam Epitaxy <11, 2000, Beijing, China>: Abstract Book.S. 275
Fachbereich(e)/-gebiet(e): 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften
11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft
11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft > Fachgebiet Strukturforschung
18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik
18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Mikrowellenelektronik
Hinterlegungsdatum: 19 Nov 2008 16:25
Letzte Änderung: 14 Feb 2019 10:47
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