TU Darmstadt / ULB / TUbiblio

Blättern nach Person

Ebene hoch
Exportieren als [feed] Atom [feed] RSS 1.0 [feed] RSS 2.0
Gruppiere nach: Keine Gruppierung | Typ des Eintrags | Publikationsjahr | Sprache
Springe zu: Englisch
Anzahl der Einträge: 1.

Englisch

Valizadeh, Pouya ; Pavlidis, Dimitris (2006)
Low-frequency noise-based degradation prediction of AlxGa1-xN/GaN MODFETs.
In: IEEE Transactions on Device and Materials Reliability, 6
Artikel, Bibliographie

Diese Liste wurde am Sat May 18 03:33:17 2024 CEST generiert.
OAI 2.0-Basis-URL: https://tubiblio.ulb.tu-darmstadt.de/cgi/oai2 TUbiblio verwendet EPrints 3.
Drucken | Impressum | Datenschutzerklärung