TU Darmstadt
ULB
TUbiblio
Blättern nach Person
Ebene hoch |
Springe zu: 2006
Anzahl der Einträge: 1.
2006
Valizadeh, Pouya ; Pavlidis, Dimitris (2006)
Low-frequency noise-based degradation prediction of AlxGa1-xN/GaN MODFETs.
In: IEEE Transactions on Device and Materials Reliability, 6
Artikel, Bibliographie