Blättern nach Person
 | Ebene hoch |
Springe zu: Englisch
Anzahl der Einträge: 1.
Englisch
Wirbeleit, F. ; Pedrero, V. ; Thron, D. ; Stephan, R. ; Schwalke, Udo (2008)
Optical Detection of SiN Stress Layer Induced Carrier Mobility Enhancement in Silicon.
Material Research Society (MRS). San Francisco, CA, USA (24.03.2008-28.03.2008)
Konferenzveröffentlichung, Bibliographie
Drucken
Impressum