Konferenzveröffentlichung

Gesswein, H. ; Paul, F. ; Binder, J. R. ; Giere, A. (2007)
High resolution X-ray diffraction study of the microstructure of undoped and doped Ba0.6Sr0.4TiO3 thick films.
6th ANKA Users Meeting.
Konferenzveröffentlichung, Bibliographie