Gesswein, H. ; Paul, F. ; Binder, J. R. ; Giere, A. (2007)
High resolution X-ray diffraction study of the microstructure of undoped and doped Ba0.6Sr0.4TiO3 thick films.
6th ANKA Users Meeting.
Konferenzveröffentlichung, Bibliographie
| Typ des Eintrags: | Konferenzveröffentlichung |
|---|---|
| Erschienen: | 2007 |
| Autor(en): | Gesswein, H. ; Paul, F. ; Binder, J. R. ; Giere, A. |
| Art des Eintrags: | Bibliographie |
| Titel: | High resolution X-ray diffraction study of the microstructure of undoped and doped Ba0.6Sr0.4TiO3 thick films |
| Sprache: | Englisch |
| Publikationsjahr: | Oktober 2007 |
| Ort: | Karlsruhe |
| Veranstaltungstitel: | 6th ANKA Users Meeting |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Institut für Mikrowellentechnik und Photonik (IMP) > Mikrowellentechnik 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Institut für Mikrowellentechnik und Photonik (IMP) |
| Hinterlegungsdatum: | 27 Jan 2012 15:19 |
| Letzte Änderung: | 05 Mär 2013 09:58 |
| PPN: | |
| Export: | |
| Suche nach Titel in: | TUfind oder in Google |
 |
Frage zum Eintrag |
Optionen (nur für Redakteure)
 |
Redaktionelle Details anzeigen |
Drucken
Impressum