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Killat, Dirk ; Kluge, Johannes von ; Umbach, Frank ; Langheinrich, Werner ; Schmitz, R.
Hrsg.: Baccerani, Giorgio (1996)
Sensitivity and noise of MOS magnetic field effect transistors.
26th European Solid State Device Research Conference. Bologna, Italy (09.09.1996-11.09.1996)
Konferenzveröffentlichung, Bibliographie
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