Acker, Heinrich ; Kluge, Johannes von ; Umbach, Frank ; Langheinrich, Werner A. (1998)
Measurement of magnetic flux density for applications in automation and control.
International Symposium on Measurement in Robotics (ISMCR 1998). Prague, Czech Republic (08.06.1998-12.06.1998)
Konferenzveröffentlichung, Bibliographie

Killat, Dirk ; Kluge, Johannes von ; Umbach, Frank ; Langheinrich, Werner ; Schmitz, Richard (1997)
Measurement and modelling of sensitivity and noise of MOS magnetic field effect transistors.
In: Sensors and Actuators A : Physical, 61 (1-3)
doi: 10.1016/S0924-4247(97)80286-5
Artikel, Bibliographie

Killat, Dirk ; Kluge, Johannes von ; Umbach, Frank ; Langheinrich, Werner ; Schmitz, R.
Hrsg.: Baccerani, Giorgio (1996)
Sensitivity and noise of MOS magnetic field effect transistors.
26th European Solid State Device Research Conference. Bologna, Italy (09.09.1996-11.09.1996)
Konferenzveröffentlichung, Bibliographie