Horn, Joachim ; Pavlidis, Dimitris ; Park, Yongjo ; Hartnagel, Hans L. (1996)
Scanning tunneling microscopy characterization of MOCVD grown GaN.
In: Materials Science and Engineering: B, 44 (1/3)
doi: 10.1016/S0921-5107(96)01791-6
Artikel, Bibliographie
| Typ des Eintrags: | Artikel |
|---|---|
| Erschienen: | 1996 |
| Autor(en): | Horn, Joachim ; Pavlidis, Dimitris ; Park, Yongjo ; Hartnagel, Hans L. |
| Art des Eintrags: | Bibliographie |
| Titel: | Scanning tunneling microscopy characterization of MOCVD grown GaN |
| Sprache: | Englisch |
| Publikationsjahr: | 1996 |
| Verlag: | Elsevier |
| Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: | Materials Science and Engineering: B |
| Jahrgang/Volume einer Zeitschrift: | 44 |
| (Heft-)Nummer: | 1/3 |
| DOI: | 10.1016/S0921-5107(96)01791-6 |
| Zusätzliche Informationen: | 3. International Workshop on Expert Evaluation and Control of Compound Semiconductor Materials and Technologies (EXMATEC), Breisgau, 1996 |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Mikrowellenelektronik |
| Hinterlegungsdatum: | 19 Nov 2008 16:04 |
| Letzte Änderung: | 08 Mai 2024 09:13 |
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