| Typ des Eintrags: |
Konferenzveröffentlichung
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| Erschienen: |
1999 |
| Autor(en): |
Gastel, Michael ; Flege, Stefan ; Breuer, U. ; Ortner, H. M. |
| Art des Eintrags: |
Bibliographie |
| Titel: |
Generalisation of the 'correlation plot' method for standard-free quantification of SIMS and SNMS measurements for samples containing three or more elements |
| Sprache: |
Englisch |
| Publikationsjahr: |
1999 |
| Ort: |
Amsterdam |
| Verlag: |
Elsevier |
| Reihe: |
International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry <11, 1999, Brussels>: Proceedings. Hrsg.: A. Benninghoven (u.a.). - Amsterdam: Elsevier, 2000. S. 405-408 |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): |
11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften |
| Hinterlegungsdatum: |
19 Nov 2008 16:04 |
| Letzte Änderung: |
05 Mär 2013 08:38 |
| PPN: |
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| Export: |
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