Keyn, Martin ; Schwalke, Udo (2013)
Multi-CNTFETs for Power Device Applications: Investigation of CCVD Grown CNTs by Means of Atomic Force Microscopy.
In: 8th International Conference on Design and Technology of Integrated Systems in Nanoscale Era (DTIS)
Artikel, Bibliographie
URL / URN: http://dx.doi.org/10.1109/DTIS.2013.6527767
| Typ des Eintrags: | Artikel |
|---|---|
| Erschienen: | 2013 |
| Autor(en): | Keyn, Martin ; Schwalke, Udo |
| Art des Eintrags: | Bibliographie |
| Titel: | Multi-CNTFETs for Power Device Applications: Investigation of CCVD Grown CNTs by Means of Atomic Force Microscopy |
| Sprache: | Englisch |
| Publikationsjahr: | 28 März 2013 |
| Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: | 8th International Conference on Design and Technology of Integrated Systems in Nanoscale Era (DTIS) |
| URL / URN: | http://dx.doi.org/10.1109/DTIS.2013.6527767 |
| Zusätzliche Informationen: | 8th International Conference on Design and Technology of Integrated Systems in Nanoscale Era (DTIS), Abu Dhabi, United Arab Emirates, 26.-28.03.2013 |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Institut für Halbleitertechnik und Nanoelektronik |
| Hinterlegungsdatum: | 08 Apr 2013 12:52 |
| Letzte Änderung: | 08 Mai 2024 08:52 |
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