TU Darmstadt / ULB / TUbiblio

Browsen nach Person

Ebene hoch
Gruppiere nach: Keine Gruppierung | Typ des Eintrags | Datum | Sprache
Anzahl der Einträge: 1.

Tone, Robert ; Bornemann, Nils ; Mechau, Norman ; Al Helwi, Mustapha ; Sauer, Hans Martin ; Dörsam, Edgar :
Impedance Spectroscopy as a Tool for the Detection of Mixed Layers in Solution Processed Semiconductors.
In: Large-area, Organic & Printed Electronics Convention (LOPE-C), June 19-21, Munich, Germany.
[Konferenz- oder Workshop-Beitrag], (2012)

Diese Liste wurde am Sat Aug 19 07:28:25 2017 CEST generiert.