TU Darmstadt / ULB / TUbiblio

Surface- and sidewall-damage of InP-based optoelectronic devices during reactive ion etching using CH4/H2

Böttner, Th. ; Kräutle, H. ; Kuphal, E. ; Miethe, K. ; Hartnagel, H. L. (1996)
Surface- and sidewall-damage of InP-based optoelectronic devices during reactive ion etching using CH4/H2.
International Conference on Indium Phosphide and Related Materials. Schwäbisch Gmünd (8.1996)
Konferenzveröffentlichung, Bibliographie

Typ des Eintrags: Konferenzveröffentlichung
Erschienen: 1996
Autor(en): Böttner, Th. ; Kräutle, H. ; Kuphal, E. ; Miethe, K. ; Hartnagel, H. L.
Art des Eintrags: Bibliographie
Titel: Surface- and sidewall-damage of InP-based optoelectronic devices during reactive ion etching using CH4/H2
Sprache: Englisch
Publikationsjahr: 1996
Buchtitel: International Conference on Indium Phosphide and Related Materials : 8, 1996, Schwäbisch Gmünd ; Proceedings
Veranstaltungstitel: International Conference on Indium Phosphide and Related Materials
Veranstaltungsort: Schwäbisch Gmünd
Veranstaltungsdatum: 8.1996
Fachbereich(e)/-gebiet(e): 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik
18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Mikrowellenelektronik
Hinterlegungsdatum: 19 Nov 2008 16:04
Letzte Änderung: 24 Sep 2024 11:19
PPN:
Export:
Suche nach Titel in: TUfind oder in Google
Frage zum Eintrag Frage zum Eintrag

Optionen (nur für Redakteure)
Redaktionelle Details anzeigen Redaktionelle Details anzeigen