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Wavelet methods for texture defect detection

Lambert, Georg ; Bock, F. (1997)
Wavelet methods for texture defect detection.
International Conference on Image Processing. Santa Barbara, Californien, USA
Konferenzveröffentlichung, Bibliographie

Typ des Eintrags: Konferenzveröffentlichung
Erschienen: 1997
Autor(en): Lambert, Georg ; Bock, F.
Art des Eintrags: Bibliographie
Titel: Wavelet methods for texture defect detection
Sprache: Englisch
Publikationsjahr: 1 Oktober 1997
Ort: IEEE Signal Processing Soc. 1997
Verlag: IEEE Signal Processing Soc. 1997
Reihe: International Conference on Image Processing <1997, Santa Barbara, Calif.>: Proceedings.
Band einer Reihe: 3
Veranstaltungstitel: International Conference on Image Processing
Veranstaltungsort: Santa Barbara, Californien, USA
Auflage: IEEE Signal Processing Soc. 1997
Fachbereich(e)/-gebiet(e): 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik
18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Institut für Automatisierungstechnik und Mechatronik
18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Institut für Automatisierungstechnik und Mechatronik > Regelungsmethoden und Robotik (ab 01.08.2022 umbenannt in Regelungsmethoden und Intelligente Systeme)
Hinterlegungsdatum: 19 Nov 2008 16:04
Letzte Änderung: 05 Mär 2013 08:39
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