Brandt, Michael ; Krozer, Viktor ; Schüßler, M. ; Bock, K.-H. ; Hartnagel, Hans L. (1996)
Characterisation of reliability of compound semiconductor devices using electrical pulses.
In: Microelectronics reliability, 36 (11/12)
doi: 10.1016/0026-2714(96)00222-3
Artikel, Bibliographie
| Typ des Eintrags: | Artikel |
|---|---|
| Erschienen: | 1996 |
| Autor(en): | Brandt, Michael ; Krozer, Viktor ; Schüßler, M. ; Bock, K.-H. ; Hartnagel, Hans L. |
| Art des Eintrags: | Bibliographie |
| Titel: | Characterisation of reliability of compound semiconductor devices using electrical pulses |
| Sprache: | Englisch |
| Publikationsjahr: | 1996 |
| Verlag: | Elsevier |
| Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: | Microelectronics reliability |
| Jahrgang/Volume einer Zeitschrift: | 36 |
| (Heft-)Nummer: | 11/12 |
| DOI: | 10.1016/0026-2714(96)00222-3 |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Mikrowellenelektronik |
| Hinterlegungsdatum: | 19 Nov 2008 16:03 |
| Letzte Änderung: | 13 Dez 2023 14:26 |
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