Tenne, R. ; Galun, E. ; Ennaoui, A. ; Fiechter, S. ; Ellmer, K. ; Kunst, M. ; Koelzow, C. ; Pettenkofer, C. ; Tiefenbacher, S. ; Scheer, R. ; Jungblut, H. ; Jaegermann, W. (1996)
Characterization of oriented thin films of WSe2 grown by van der Waals rheotaxy.
In: Thin Solid Films, 272 (1)
doi: 10.1016/0040-6090(95)06963-1
Artikel, Bibliographie
| Typ des Eintrags: | Artikel |
|---|---|
| Erschienen: | 1996 |
| Autor(en): | Tenne, R. ; Galun, E. ; Ennaoui, A. ; Fiechter, S. ; Ellmer, K. ; Kunst, M. ; Koelzow, C. ; Pettenkofer, C. ; Tiefenbacher, S. ; Scheer, R. ; Jungblut, H. ; Jaegermann, W. |
| Art des Eintrags: | Bibliographie |
| Titel: | Characterization of oriented thin films of WSe2 grown by van der Waals rheotaxy |
| Sprache: | Englisch |
| Publikationsjahr: | 1996 |
| Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: | Thin Solid Films |
| Jahrgang/Volume einer Zeitschrift: | 272 |
| (Heft-)Nummer: | 1 |
| DOI: | 10.1016/0040-6090(95)06963-1 |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft > Fachgebiet Oberflächenforschung |
| Hinterlegungsdatum: | 27 Apr 2015 08:08 |
| Letzte Änderung: | 27 Apr 2015 08:08 |
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