Gastel, Michael ; Flege, Stefan ; Breuer, U. ; Ortner, H. M. (2000)
Generalization of the „Correlation Plot“-Method for Standard-Free Quantification of SIMS- and SNMS-Measurements for Samples Containing Three or More Elements.
In: Proceedings of the 12th International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry, Brussels, Sept. 1999, A. Benninghoven, P. Bertrand, H.-N. Migeon, H.W. Werner, eds
Artikel, Bibliographie
| Typ des Eintrags: | Artikel |
|---|---|
| Erschienen: | 2000 |
| Autor(en): | Gastel, Michael ; Flege, Stefan ; Breuer, U. ; Ortner, H. M. |
| Art des Eintrags: | Bibliographie |
| Titel: | Generalization of the „Correlation Plot“-Method for Standard-Free Quantification of SIMS- and SNMS-Measurements for Samples Containing Three or More Elements |
| Sprache: | Englisch |
| Publikationsjahr: | 2000 |
| Verlag: | Elsevier |
| Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: | Proceedings of the 12th International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry, Brussels, Sept. 1999, A. Benninghoven, P. Bertrand, H.-N. Migeon, H.W. Werner, eds |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft > Fachgebiet Materialanalytik 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften |
| Hinterlegungsdatum: | 25 Jun 2012 11:52 |
| Letzte Änderung: | 05 Mär 2013 10:01 |
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