Schwalke, Udo (2009)
Yield, Reliability and Variability in the Nano-Era: Will Existing Approaches Survive?
14th IEEE European Test Symposium. Sevilla, Spanien (25.05.2009-29.05.2009)
Konferenzveröffentlichung, Bibliographie
| Typ des Eintrags: | Konferenzveröffentlichung |
|---|---|
| Erschienen: | 2009 |
| Autor(en): | Schwalke, Udo |
| Art des Eintrags: | Bibliographie |
| Titel: | Yield, Reliability and Variability in the Nano-Era: Will Existing Approaches Survive? |
| Sprache: | Englisch |
| Publikationsjahr: | 29 Mai 2009 |
| Veranstaltungstitel: | 14th IEEE European Test Symposium |
| Veranstaltungsort: | Sevilla, Spanien |
| Veranstaltungsdatum: | 25.05.2009-29.05.2009 |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Institut für Halbleitertechnik und Nanoelektronik |
| Hinterlegungsdatum: | 29 Jun 2011 09:32 |
| Letzte Änderung: | 22 Mai 2013 13:51 |
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