Stark, R. W. ; Naujoks, N. ; Stemmer, A. (2005)
Detection of Injected Charges by Kelvin Probe and Multi-mode Electrostatic Force Microscopy.
Proc. 5th IEEE Conf. Nanotechnology. Nagoya, Japan
Konferenzveröffentlichung, Bibliographie
| Typ des Eintrags: | Konferenzveröffentlichung |
|---|---|
| Erschienen: | 2005 |
| Autor(en): | Stark, R. W. ; Naujoks, N. ; Stemmer, A. |
| Art des Eintrags: | Bibliographie |
| Titel: | Detection of Injected Charges by Kelvin Probe and Multi-mode Electrostatic Force Microscopy |
| Sprache: | Englisch |
| Publikationsjahr: | 2005 |
| Ort: | Nagoya, Japan |
| Veranstaltungstitel: | Proc. 5th IEEE Conf. Nanotechnology |
| Veranstaltungsort: | Nagoya, Japan |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): | Zentrale Einrichtungen ?? fb99_csi~fg5 ?? |
| Hinterlegungsdatum: | 05 Jul 2010 12:11 |
| Letzte Änderung: | 26 Jan 2024 09:51 |
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