Stark, R. W. ; Naujoks, N. ; Stemmer, A. (2007)
Multifrequency electrostatic force microscopy in the repulsive regime.
In: Nanotechnology, 18 (6)
doi: 10.1088/0957-4484/18/6/065502
Artikel, Bibliographie
| Typ des Eintrags: | Artikel |
|---|---|
| Erschienen: | 2007 |
| Autor(en): | Stark, R. W. ; Naujoks, N. ; Stemmer, A. |
| Art des Eintrags: | Bibliographie |
| Titel: | Multifrequency electrostatic force microscopy in the repulsive regime |
| Sprache: | Englisch |
| Publikationsjahr: | 10 Januar 2007 |
| Verlag: | Institute of Physics Publishing (IOP) |
| Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: | Nanotechnology |
| Jahrgang/Volume einer Zeitschrift: | 18 |
| (Heft-)Nummer: | 6 |
| DOI: | 10.1088/0957-4484/18/6/065502 |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): | Zentrale Einrichtungen ?? fb99_csi~fg5 ?? |
| Hinterlegungsdatum: | 08 Jun 2010 08:02 |
| Letzte Änderung: | 23 Apr 2020 14:30 |
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